更新時間：2024-06-18
儀器型號：
德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；所有型號均可配所有探頭；
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德國EPK-MiniTest 1100涂鍍層測厚儀
德國EPK（Elektrophysik）公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。
| 型號 |
1100 |
2100 |
3100 |
4100 |
| MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 | ||||
| 應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)） |
1 |
1 |
10 |
99 |
| 每個應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，并可設(shè)寬容度極限值） |
- |
1 |
10 |
99 |
| 可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) |
- |
1 |
500 |
500 |
| 數(shù)據(jù)總量 |
1 |
10000 |
10000 |
10000 |
| MINITEST統(tǒng)計計算功能 | ||||
| 讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar |
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√ |
√ |
| 讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
| 組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar |
- |
- |
√ |
√ |
| 組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
| 存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) |
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- |
- |
√ |
| 分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 |
- |
- |
√ |
√ |
| 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 |
- |
√ |
√ |
√ |
| 其他功能 | ||||
| 透過涂層進行校準（CTC） |
- |
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| 在粗糙表面上作平均零校準 |
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√ |
√ |
√ |
| 利用計算機進行基礎(chǔ)校準 |
√ |
√ |
√ |
√ |
| 補償一個常數(shù)（Offset） |
- |
- |
√ |
√ |
| 外設(shè)的讀值傳輸存儲功能 |
- |
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√ |
√ |
| 保護并鎖定校準設(shè)置 |
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√ |
√ |
| 更換電池是存儲數(shù)值 |
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√ |
√ |
√ |
| 設(shè)置極限值 |
- |
- |
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√ |
| 公英制轉(zhuǎn)換 |
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√ |
√ |
| 連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值 |
- |
- |
√ |
√ |
| 連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) |
- |
- |
√ |
√ |
| 浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送 |
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√ |
√ |
√ |
| 組內(nèi)單值延遲顯示 |
- |
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√ |
| 連續(xù)測量模式中顯示zui小值 |
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√ |
√ |
√ |
MiniTest2100涂層測厚儀可選探頭參數(shù)（ 探頭圖示）
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭 |
量程 |
低端 |
誤差 |
zui小曲率 |
zui小測量 |
zui小基 |
探頭尺寸 | |
磁
|
F05 |
0-500μm |
0.1μm |
±（1%±0.7μm） |
1/5mm |
3mm |
0.2mm |
φ15x62mm |
F1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±（1%±1μm） |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm | |
F1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±（1%±1μm） |
平面/6mm |
5mm |
0.5mm |
φ8x8x170mm | |
F3 |
0-3000μm |
0.2μm |
±（1%±1μm） |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm | |
F10 |
0-10mm |
5μm |
±（1%±10μm） |
5/16mm |
20mm |
1mm |
φ25x46mm | |
F20 |
0-20mm |
10μm |
±（1%±10μm） |
10/30mm |
40mm |
2mm |
φ40x66mm | |
F50 |
0-50mm |
10μm |
±（3%±50μm） |
50/200mm |
300mm |
2mm |
φ45x70mm | |
兩
|
FN1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±（1%±1μm） |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm |
φ15x62mm |
FN1.6P |
0-1600μm |
0.1μm |
±（1%±1μm） |
平面 |
30mm |
F0.5mm |
φ21x89mm | |
FN2 |
0-2000μm |
0.2μm |
±（1%±1μm） |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm |
φ15x62mm | |
電
|
N02 |
0-200μm |
0.1μm |
±（1%±0.5μm） |
1/10mm |
2mm |
50μm |
φ16x70mm |
N.08Cr |
0-80μm |
0.1μm |
±（1%±1μm） |
2.5mm |
2mm |
100μm |
φ15x62mm | |
N1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±（1%±1μm） |
1.5/10mm |
2mm |
50μm |
φ15x62mm | |
N1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±（1%±1μm） |
平面/10mm |
5mm |
50μm |
φ13x13x170mm | |
N10 |
0-10mm |
10μm |
±（1%±25μm） |
25/100mm |
50mm |
50μm |
φ60x50mm | |
N20 |
0-20mm |
10μm |
±（1%±50μm） |
25/100mm |
70mm |
50μm |
φ65x75mm | |
N100 |
0-100mm |
100μm |
±（1%±0.3mm） |
100mm/平面 |
200mm |
50μm |
φ126x155mm | |
CN02 |
10-200μm |
0.2μm |
±（1%±1μm） |
平面 |
7mm |
無限制 |
φ17x80mm | |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
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