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          德國EPK公司-MiniTest2100涂鍍層測厚儀

          更新時間:2024-06-18

          儀器型號:

          簡要描述:

          德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
          MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;

            免費咨詢:86-0755-23109332

            發(fā)郵件給我們:weifeng1718@163.com

          德國EPK公司-MiniTest2100涂鍍層測厚儀


          德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
          MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
          所有型號均可配所有探頭;
          可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
          可使用一片或二片標(biāo)準箔校準。

          MiniTest2100涂鍍層測厚儀功能

          型號

          1100

          2100

          3100

          4100

          MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
          應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

          1

          1

          10

          99

          每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計,并可設(shè)寬容度極限值)

          -

          1

          10

          99

          可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù)

          -

          1

          500

          500

          數(shù)據(jù)總量

          1

          10000

          10000

          10000

          MINITEST統(tǒng)計計算功能
          讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar

          -

          讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

          -

          -

          組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar

          -

          -

          組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

          -

          -

          存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

          -

          -

          -

          分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值

          -

          -

          顯示并打印測量值、打印的日期和時間

          -

          其他功能
          透過涂層進行校準(CTC)

          -

          在粗糙表面上作平均零校準

          利用計算機進行基礎(chǔ)校準

          補償一個常數(shù)(Offset)

          -

          -

          外設(shè)的讀值傳輸存儲功能

          -

          保護并鎖定校準設(shè)置

          更換電池是存儲數(shù)值

          設(shè)置極限值

          -

          -

          公英制轉(zhuǎn)換

          連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值

          -

          -

          連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

          -

          -

          浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送

          組內(nèi)單值延遲顯示

          -

          連續(xù)測量模式中顯示zui小值

          MiniTest2100涂層測厚儀可選探頭參數(shù)探頭圖示
          所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
          F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
          N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
          FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

          德國EPK公司MiniTest2100涂層測厚儀探頭參數(shù)

          探頭

          量程

          低端
          分辨率

          誤差

          zui小曲率
          半徑(凸/凹)

          zui小測量
          區(qū)域直徑

          zui小基
          體厚度

          探頭尺寸



          應(yīng)

           

           

           

           

           

           

           

          F05

          0-500μm

          0.1μm

          ±(1%±0.7μm)

          1/5mm

          3mm

          0.2mm

          φ15x62mm

          F1.6

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          0.5mm

          φ15x62mm

          F1.6/90

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          平面/6mm

          5mm

          0.5mm

          φ8x8x170mm

          F3

          0-3000μm

          0.2μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          0.5mm

          φ15x62mm

          F10

          0-10mm

          5μm

          ±(1%±10μm)

          5/16mm

          20mm

          1mm

          φ25x46mm

          F20

          0-20mm

          10μm

          ±(1%±10μm)

          10/30mm

          40mm

          2mm

          φ40x66mm

          F50

          0-50mm

          10μm

          ±(3%±50μm)

          50/200mm

          300mm

          2mm

          φ45x70mm



           

           

           

          FN1.6

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          F0.5mm
          N50μm

          φ15x62mm

          FN1.6P

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          平面

          30mm

          F0.5mm
          N50μm

          φ21x89mm

          FN2

          0-2000μm

          0.2μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          F0.5mm
          N50μm

          φ15x62mm




           

           

           

           

           

           

           

           

           

          N02

          0-200μm

          0.1μm

          ±(1%±0.5μm)

          1/10mm

          2mm

          50μm

          φ16x70mm

          N.08Cr

          0-80μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          2.5mm

          2mm

          100μm

          φ15x62mm

          N1.6

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          2mm

          50μm

          φ15x62mm

          N1.6/90

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          平面/10mm

          5mm

          50μm

          φ13x13x170mm

          N10

          0-10mm

          10μm

          ±(1%±25μm)

          25/100mm

          50mm

          50μm

          φ60x50mm

          N20

          0-20mm

          10μm

          ±(1%±50μm)

          25/100mm

          70mm

          50μm

          φ65x75mm

          N100

          0-100mm

          100μm

          ±(1%±0.3mm)

          100mm/平面

          200mm

          50μm

          φ126x155mm

          CN02

          10-200μm

          0.2μm

          ±(1%±1μm)

          平面

          7mm

          無限制

          φ17x80mm

          F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
          N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。

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          深圳市偉峰儀器儀表有限公司

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          地址:深圳市寶安區(qū)沙井街道步涌社區(qū)新和大道129號-177號(單號)E1306

          主營產(chǎn)品:美國UVP紫外燈,美國sp紫外線燈,美國泛美38dl,,美國蒙那多頻閃儀,蒙那多轉(zhuǎn)速傳感器,ROS系列轉(zhuǎn)速傳感器

          公司版權(quán)所有:  備案號:粵ICP備14041131號  總訪問量:484150  站點地圖  技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)  管理登陸

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